Paradigme de test et de mesure pour les systèmes sans fil numériques

Résumé : Des exemples de tests et de mesures de systèmes sans fil numériques sont fournis par d'excellents fabricants de débitmètres . Avec la transition vers les systèmes 2,5G et 3G, les concepteurs d'amplificateurs de puissance sont confrontés à de nouveaux défis de conception. Le système hybride proposé permet aux fournisseurs de services d'effectuer une transition en douceur vers les systèmes 3G tout en prenant en charge l'infrastructure existante. Ce système combine plusieurs porteuses. De plus en plus de fabricants de débitmètres choisissent des modèles et des devis. N'hésitez pas à nous contacter. Vous trouverez ci-dessous le détail des articles sur les exemples de tests et de mesures de systèmes sans fil numériques. Avec la transition vers les systèmes 2,5G et 3G, les concepteurs d'amplificateurs de puissance sont confrontés à de nouveaux défis de conception. Le système hybride proposé permet aux fournisseurs de services d'effectuer une transition en douceur vers les systèmes 3G tout en prenant en charge l'infrastructure existante. Cette combinaison de plusieurs porteuses et de plusieurs systèmes permet de réduire les coûts des systèmes, de répondre aux exigences des services de données et d'étendre la couverture du marché. La radio logicielle (SDR) de nouvelle génération est la technologie qui peut conduire à cette évolution. Dans le cas de schémas multiporteuses et multimodulations, les concepteurs d'amplificateurs sont confrontés à des défis supplémentaires lors des tests de performances. Cela nécessite également une nouvelle architecture de test et de mesure. Pour implémenter un schéma radio logiciel dans un système 3G, le concepteur doit d'abord tester minutieusement les performances de l'amplificateur en laboratoire. Pour ce faire, il est nécessaire d'utiliser les dernières configurations modulaires de test et de mesure. Les solutions modulaires présentées dans cet article exploitent pleinement les convertisseurs numérique-analogique (N/A) à haute linéarité, la mémoire SSD de plusieurs gigaoctets et les convertisseurs élévateurs/abaisseurs de fréquence radio (RF) à large bande. Ainsi, des conditions de test très réalistes sont disponibles, tant en laboratoire qu'en production. Grâce à ces nouvelles méthodes de test, la fonction de distribution cumulative (CCDF) réelle peut être entièrement simulée ; des signaux multiporteuses et multistandards sont générés ; et des signaux d'une grande pureté spectrale sont fournis. De nouvelles techniques de linéarisation numérique peuvent être testées pour vérifier l'efficacité des nouveaux algorithmes utilisés pour améliorer les performances des amplificateurs de puissance. L'adoption de ces nouvelles conceptions d'amplificateurs par l'industrie nécessite des équipements de test de signaux plus complexes et modulaires. Tests d'amplificateurs : Historiquement, les mesures d'amplificateurs de puissance utilisaient généralement des générateurs de signaux basés sur des modulateurs en phase et en quadrature (IQ). Initialement optimisés pour la génération monoporteuse, ces instruments ont été développés pour répondre aux besoins actuels des mesures multiporteuses. Ils disposent d'un circuit de modulation analogique IQ et d'une mémoire de forme d'onde utilisant deux convertisseurs N/A. Leurs fonctionnalités sont suffisantes pour les tests monocritères. Cependant, ces générateurs (voir figure 1) présentent des limitations inhérentes qui incitent les concepteurs de stations de base à se tourner vers des concepts de radio logicielle pour la conception de stations de base. La structure IQ est sensible au déséquilibre des parties I et Q des bandes de base, à la définition de l'amplitude du décalage de phase et au déséquilibre du canal causé par le décalage continu. Lorsque le spectre multiporteuse est asymétrique par rapport à la porteuse RF, la structure IQ devient plus difficile à optimiser. Le signal est sujet à la dérive et nécessite des ajustements manuels, exigeant des itérations constantes de la part de l'opérateur. Tous ces déséquilibres peuvent interférer avec la sortie et rendre les mesures de puissance des porteuses adjacentes (ACP) moins optimales. Pour les tests d'amplificateurs de puissance, il est essentiel d'ajuster le rapport de puissance des porteuses adjacentes (ACPR) pour des performances optimales. Le banc d'essai utilise un concept de radio logicielle comme base structurelle pour un générateur de signaux vectoriels, ce qui permet de pallier de nombreux défauts des générateurs IQ actuels. Ce concept utilise un seul convertisseur N/A et une chaîne de conversion ascendante de fréquence intermédiaire (FI) vers radiofréquence (RF) (voir Figure 2). Il imite la structure de conception la plus récente des stations de base. L'ajout de plusieurs gigaoctets de mémoire après le convertisseur N/A offre une flexibilité quasi illimitée pour la génération de signaux de test. Il permet ainsi de générer des signaux multiporteuses/multistandards, ainsi que d'enregistrer et de restituer l'enregistrement spectral de la scène réelle. Cette combinaison matérielle et logicielle intuitive de « Simulation de signaux vectoriels » permet aux ingénieurs de test et aux développeurs de produits d'obtenir les combinaisons illimitées de signaux multiporteuses/multistandards dont ils ont besoin. Le logiciel de simulation de signaux vectoriels permet aux concepteurs de développer des algorithmes propriétaires et des schémas de modulation personnalisés, différents de ceux des fournisseurs d'équipements. Pour réaliser des mesures statistiques CCDF importantes, il est nécessaire de générer des signaux simulés sur de longues périodes. Des signaux multiporteuses/multistandards peuvent être générés pour tester les performances des amplificateurs pour les dernières configurations de stations de base 2G, 2,5G et 3G. Dans les bancs de test I/Q actuels, la suppression de la fréquence porteuse de l'oscillateur local (OL) dépend principalement de la fidélité du modulateur I/Q. Dans cette conception, une adaptation phase/amplitude rigoureuse et une réjection CC sont nécessaires pour garantir des performances optimales. Cette conception est donc plus sensible à la dérive, et les déséquilibres spectraux et de constellation qui en résultent peuvent fortement limiter la qualité des résultats de test. Cette dérive est directement liée à la variation statistique inhérente au composant. En revanche, les bancs de test numériques FI utilisent des filtres passe-bande RF et suppriment les porteuses RF en choisissant de manière optimale le décalage de fréquence entre les entrées FI et OL. Le banc de test numérique FI élimine les déséquilibres dus à la dérive I/Q (phase, amplitude et décalage CC). La fréquence fondamentale est générée par le processus N/A pour obtenir les meilleures performances. Ce signal est ensuite converti pour maintenir une sortie haute fidélité.

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