Paradigma de prueba y medición para sistemas inalámbricos digitales

Resumen: La información sobre ejemplos de prueba y medición de sistemas inalámbricos digitales es proporcionada por excelentes fabricantes de caudalímetros . A medida que la industria se actualiza a sistemas 2.5G y 3G, los diseñadores de amplificadores de potencia se enfrentan a nuevos desafíos de diseño. El sistema híbrido propuesto permite a los proveedores de servicios una transición fluida a sistemas 3G, a la vez que soporta la infraestructura existente. Esto combina múltiples portadoras. Cada vez más fabricantes de caudalímetros eligen modelos y cotizaciones. Le invitamos a consultar. A continuación, se detallan los artículos sobre ejemplos de prueba y medición de sistemas inalámbricos digitales. A medida que la industria se actualiza a sistemas 2.5G y 3G, los diseñadores de amplificadores de potencia se enfrentan a nuevos desafíos de diseño. El sistema híbrido propuesto permite a los proveedores de servicios una transición fluida a sistemas 3G, a la vez que soporta la infraestructura existente. Esta combinación de múltiples portadoras y múltiples sistemas puede utilizarse para reducir los costos del sistema, adaptarse a los requisitos del servicio de datos y ampliar la cobertura del mercado. La radio definida por software (SDR) de próxima generación es la tecnología que puede impulsar este cambio. En el caso de esquemas multiportadora y multimodulación, los diseñadores de amplificadores se enfrentan a desafíos adicionales al probar el rendimiento. Esto también requiere una nueva arquitectura en pruebas y mediciones. Para implementar un esquema de radio definido por software en un sistema 3G, el diseñador debe primero probar exhaustivamente el rendimiento del amplificador en un laboratorio. Para lograrlo eficazmente, se deben emplear las configuraciones modulares de prueba y medición más recientes. Las soluciones modulares que se describen en este artículo aprovechan al máximo los convertidores digital-analógico (D/A) de alta linealidad, la memoria de estado sólido de gigabytes y los convertidores ascendentes/descendentes de radiofrecuencia (RF) de banda ancha. Como resultado, se dispone de condiciones de prueba muy realistas tanto en pruebas de laboratorio como de producción. Con estos nuevos métodos de prueba, se puede simular completamente la función de distribución acumulativa (CCDF) real; se generan señales multiportadora y multiestándar; y se proporcionan señales espectralmente muy puras. Se pueden probar nuevas técnicas de linealización digital para verificar la eficacia de los nuevos algoritmos utilizados para mejorar el rendimiento de los amplificadores de potencia. La adopción de estos nuevos diseños de amplificadores por parte de la industria requiere equipos de prueba de señales más complejos con una estructura modular. Pruebas de amplificadores. Históricamente, las mediciones de amplificadores de potencia se han realizado típicamente con generadores de señales basados ​​en moduladores en fase y en cuadratura (IQ). Originalmente optimizados para la generación de portadora única, estos instrumentos se han ampliado para satisfacer las necesidades actuales de mediciones multiportadora. Incorporan un circuito de modulación IQ analógico y memoria de forma de onda mediante convertidores D/A duales. Su función es suficiente para las pruebas de criterio único. Sin embargo, estos generadores (véase la Figura 1) presentan limitaciones inherentes que impulsan a los diseñadores de bases a recurrir a conceptos de radio definidos por software para el diseño de estaciones base. La estructura IQ es sensible al desequilibrio de las partes I y Q de la banda base, la definición de la magnitud del desfase y el desequilibrio del canal causado por el desfase de CC. Cuando el espectro multiportadora es asimétrico con respecto a la portadora de RF, la estructura IQ se vuelve más difícil de optimizar. La señal es propensa a la deriva y requiere ajustes manuales, lo que requiere iteración constante por parte del operador. Todos estos desequilibrios pueden interferir con la salida y hacer que las mediciones de potencia de la portadora adyacente (ACP) sean menos óptimas. Para las pruebas de amplificadores de potencia, es fundamental ajustar la relación de potencia de la portadora adyacente (ACPR) para un rendimiento óptimo. El banco de pruebas utiliza un concepto de radio definida por software como base estructural para un generador vectorial de señales, lo que elimina muchas de las deficiencias de los generadores actuales basados ​​en IQ. Este concepto utiliza un único convertidor D/A y una cadena de conversión ascendente de frecuencia intermedia (FI) a radiofrecuencia (RF) (véase la Figura 2). Imita la estructura de diseño más reciente de estaciones base. La adición de gigabytes de memoria después del convertidor D/A permite una flexibilidad prácticamente ilimitada en la generación de señales de prueba. De este modo, puede generar señales multiportadora/multiestándar, así como grabar y reproducir el registro del espectro de la escena real. Esta combinación de hardware y software, la intuitiva "Simulación Vectorial de Señales", permite a los ingenieros de pruebas y desarrolladores de productos obtener las combinaciones ilimitadas de señales multiportadora/multiestándar que necesitan. El software de simulación vectorial de señales permite a los diseñadores generar algoritmos propietarios y esquemas de modulación personalizados que difieren de los esquemas de modulación de los fabricantes de equipos. Para realizar mediciones estadísticas CCDF importantes, es necesario generar señales simuladas durante largos periodos de tiempo. Se pueden generar señales multiportadora/multiestándar para probar el rendimiento del amplificador en las configuraciones más recientes de estaciones base 2G, 2.5G y 3G. En los bancos de pruebas actuales basados ​​en I/Q, la supresión de la frecuencia portadora del oscilador local (LO) depende principalmente de la fidelidad del modulador I/Q. En este diseño, se requiere una adaptación rigurosa de fase/amplitud y rechazo de CC para garantizar un rendimiento óptimo. Por lo tanto, este diseño es más sensible a la deriva, y los desequilibrios espectrales y de constelación resultantes pueden limitar considerablemente la calidad de los resultados de las pruebas. Esta deriva está directamente relacionada con la variación estadística inherente a la pieza. Por el contrario, los bancos de pruebas digitales basados ​​en FI utilizan filtros paso banda de RF y suprimen las portadoras de RF seleccionando óptimamente el desfase de frecuencia entre las entradas de FI y LO. El banco de pruebas digital basado en FI elimina los desequilibrios debidos a la deriva I/Q (fase, amplitud y desfase de CC). La frecuencia fundamental se genera mediante el proceso D/A para lograr el máximo rendimiento. Esta señal se convierte posteriormente para mantener una salida de alta fidelidad.

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